半导体薄膜发光谱的修正

• 作者: 孙景 杜希文 符杨
• 来源期刊: 实验室研究与探索
• 学科: 工学
• 关键词: 分光光度计 光致发光谱 标准偏差 薄膜 溅射
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 418-420
• 页数: 3页
• 分类号: TH74
• 字数: 1656字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7167.2006.04.004

摘要

讨论了半导体发光薄膜的光致发光谱修正要点.光致发光结果受到氙灯的光强、温度及薄膜表面的平整度等因素的限制,使得结果可比性差.采用了标准偏差的方法修正了数据,使其具有可比性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙景	天津大学材料与科学工程学院	54	591	14.0	21.0
2	杜希文	天津大学材料与科学工程学院	27	182	8.0	11.0
3	符杨	天津大学材料与科学工程学院	1	3	1.0	1.0