利用太阳电池Ⅰ-Ⅴ特性测量其基区少数载流子寿命

• 作者: 刘祖明 屈盛 廖华 陈庭金 马逊
• 来源期刊: 太阳能学报
• 学科: 工学
• 关键词: 少数载流子寿命 饱和暗电流 I-V特性
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 页码范围: 905-909
• 页数: 5页
• 分类号: TK5
• 字数: 3755字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-0096.2006.09.009

摘要

提出了一种新的测量成品太阳电池基区少子寿命的方法,这种方法在电池制备完成后进行测量.此方法还可对印刷电极后烧结这步工艺流程进行少子寿命的监控,以提供改进电极制作工艺信息.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈庭金	云南师范大学太阳能研究所云南省农村能源工程重点试验室	42	351	10.0	17.0
2	刘祖明	云南师范大学太阳能研究所云南省农村能源工程重点试验室	60	483	12.0	20.0
3	廖华	云南师范大学太阳能研究所云南省农村能源工程重点试验室	46	298	9.0	15.0
4	马逊	云南师范大学太阳能研究所云南省农村能源工程重点试验室	18	58	3.0	7.0
5	屈盛	云南师范大学太阳能研究所云南省农村能源工程重点试验室	4	31	2.0	4.0