基于LabVIEW的介电材料电阻温度特性测控系统

• 作者: 刘卫国 陈剑
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 介电材料 方阻 电阻温度系数 测控系统
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 计量技术与工程测试
• 页码范围: 66-68
• 页数: 3页
• 分类号: TP273
• 字数: 2178字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2006.05.021

摘要

介绍了在LabVIEW环境下开发测试程序Ⅵ(虚拟仪器)测试片状元件试样的方阻、电阻率以及电阻温度系数TCR随温度的变化关系,主要包括电阻温度特性测控系统的硬件构成,基于LabVIEW开发平台的测控软件框图及测试程序.该测试系统在-20℃～120℃温度范围内能够实现对元件试样的多点测试,升温方法采取线性升温,且升温速率可在0.1℃/min～10℃/min之间选择,测试结果对于介电材料性能的研究以及元器件开发都有一定的价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘卫国	西安工业学院光电工程学院微系统研究所	112	575	12.0	17.0
2	陈剑	西安工业学院光电工程学院微系统研究所	1	1	1.0	1.0