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摘要:
在10 Hz~1 MHz TTL信号下,提出竞争冒险的产生与信号频率无关.时间延迟大则干扰脉冲幅度大,时间延迟与干扰脉冲宽度大致相等,不同期的干扰脉冲幅度不等、状态不同.时间延迟、过渡时间、逻辑关系和延迟信号相位要素,构成竞争冒险的产生条件.竞争冒险的演变过程经历萌生期、发展期和成熟期,成熟期竞争冒险具有极大危害性.建议抑制竞争冒险措施从电路第四级门开始设置.
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文献信息
篇名 基于实验方法揭示竞争冒险的成因奥秘
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 竞争冒险 产生条件 演变过程 抑制设置
年,卷(期) 2006,(12) 所属期刊栏目 封装测试技术
研究方向 页码范围 915-919
页数 5页 分类号 TN3
字数 3299字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2006.12.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张栓记 洛阳师范学院物理与电子科学系 16 117 5.0 10.0
2 傅和平 洛阳师范学院物理与电子科学系 28 77 5.0 7.0
3 熊中朝 洛阳师范学院物理与电子科学系 9 11 2.0 2.0
4 宁敏东 洛阳师范学院物理与电子科学系 17 28 2.0 4.0
5 李天超 洛阳师范学院物理与电子科学系 6 7 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
竞争冒险
产生条件
演变过程
抑制设置
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半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
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18-65
1976
chi
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