单片机测控系统电磁干扰及辐射的分析与抑制

• 作者: 廖清明 郑健 郑文达
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 电磁干扰 辐射 抑制 单片机
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 相关技术(4)
• 页码范围: 684-686
• 页数: 3页
• 分类号: TP368.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9728.2006.02.217

摘要

文中详细分析了单片机测控系统现场的电磁干扰及辐射的情况及原因,并提出了抑制电磁干扰及辐射的有效措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑健		12	71	5.0	8.0
2	郑文达		6	9	2.0	3.0
3	廖清明		2	5	1.0	2.0