基于紫外脉冲法的绝缘子污秽状态监测

• 作者: 何为 姚德贵 尹康 杨帆 陈涛 齐小伟
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 污秽 在线监测 紫外脉冲法 日盲区
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 所属期刊栏目: 在线监测
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: TM755|TN23
• 字数: 4692字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2006.10.012

摘要

为及时监测绝缘子的污秽状态,根据绝缘子污秽程度与放电脉冲的关系和绝缘子放电时紫外脉冲的特性,提出了一种基于紫外脉冲法的绝缘子污秽状态在线监测技术,通过绝缘子放电强度和次数的变化判断绝缘子污秽程度.110 kV线路试验的结果表明,在线监测表面放电时的紫外脉冲可监测绝缘子的污秽状态,且不需接触绝缘子,与绝缘子的距离可以达到4m.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈涛		9	267	7.0	9.0
2	何为	重庆大学电气工程学院	242	2902	26.0	40.0
3	杨帆	重庆大学电气工程学院	87	791	16.0	24.0
4	姚德贵		15	317	9.0	15.0
5	尹康		2	48	2.0	2.0
6	齐小伟		3	65	3.0	3.0