原文服务方: 电子质量       
摘要:
在对双绞线电磁干扰进行研究中,一些学者建立了精确的干扰模型,但并不适合工程应用.本文根据电磁兼容优势效应理论,推导出双绞线传导干扰主要由差模电流引起,辐射干扰主要由共模电流引起.分别利用广义二端口网络模型和电流元分析方法建立双绞线串扰和辐射的简化模型,从而有效估算双绞线串扰电压和对外辐射场的大小,为工程人员采取有效措施抑制互连设备电磁干扰提供了理论帮助.
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文献信息
篇名 基于优势效应理论的双绞线简化建模
来源期刊 电子质量 学科
关键词 优势效应 双绞线 二端口网络 电流元 串扰 辐射
年,卷(期) 2006,(10) 所属期刊栏目 EMC
研究方向 页码范围 75-78
页数 4页 分类号 TN7
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2006.10.028
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张小青 北京交通大学电气工程学院 69 585 14.0 20.0
2 马明 北京交通大学电气工程学院 6 32 3.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
优势效应
双绞线
二端口网络
电流元
串扰
辐射
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
论文1v1指导