基于DSP芯片的液晶特性专用测试仪研制

• 作者: 万京 程兰 高蒙
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 液晶材料 DSP 特性测试仪 击穿特性 失效机理
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 86-88,91
• 页数: 4页
• 分类号: TP211+.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.01.036

摘要

以TMS320LF2407 DSP芯片为核心研制了一种液晶特性专用测试仪,测试液晶材料在不同电压和不同频率的电性能,得到被测材料在高压情况下的一系列响应特性,为研究其击穿特性和失效机理提供直接实验数据,为液晶显示材料的选择提供重要依据.介绍了液晶特性专用测试仪的功能、测试原理、系统组成、主要硬件电路和软件设计思想.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高蒙		33	362	8.0	18.0
2	万京		6	4	1.0	2.0
3	程兰		1	0	0.0	0.0