基于VXI总线的高速数据测试模块硬件设计

• 作者: 周启忠 陈光(礻禹) 顾亚平
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: VXI总线 消息基 字串行协议 双端口RAM
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 电子测量与自动化控制
• 页码范围: 89-92
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.12
• 字数: 2662字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2006.03.028

摘要

VXI高速数字测试模块主要用于数字板卡和数字系统的测试,也具有逻辑分析仪和数字信号发生器的功能.本文讲述了基于VXI总线的高速数据测试模块硬件电路设计.设计包括VXI总线接口电路,高速数据通道(FDC)传输电路,本地数据处理电路和64路可编程I/O电路.充分结合VXI消息基接口的优点,实现了高速数据测试;实时数据比较和故障诊断功能,并对设计过程存在的问题进行讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈光(礻禹)	电子科技大学自动化工程学院	89	1213	20.0	31.0
2	顾亚平	电子科技大学自动化工程学院	10	24	3.0	4.0
3	周启忠	电子科技大学自动化工程学院	7	29	3.0	5.0