两相邻耦合互连的Elmore延时估计

• 作者: 李跃进 杨银堂 董刚
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电容提取 耦合RC互连 有效电容 延时
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 研究快报
• 页码范围: 54-58
• 页数: 5页
• 分类号: TN405.97
• 字数: 617字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.01.011

摘要

基于"有效电容"的概念提出了一种分析两相邻耦合RC互连延时的方法.与采用Miller电容的传统方法比较,该方法不但提高了计算精度而且反映出了延时随信号上升时间的变化规律.该方法与Elmore延时法具有相同的计算复杂度,可广泛用于考虑耦合电容的面向性能的布线优化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨银堂	西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	420	2932	23.0	32.0
2	李跃进	西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	70	432	11.0	17.0
3	董刚	西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	36	121	7.0	9.0