H2对N2直流辉光放电电子行为的影响

• 作者: 张连珠 高书侠
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: N2-H2辉光放电 Monte Carlo模拟 e-N2碰撞率
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 流体、等离子体和放电
• 页码范围: 3524-3530
• 页数: 7页
• 分类号: O4
• 字数: 3868字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2006.07.054

摘要

通过用Monte Carlo方法模拟N2-H2混合气体直流辉光放电等离子体快电子行为,从不同H2浓度的电子能量分布函数,电子密度以及ef-N2碰撞率等方面,研究了加H2对氮辉光放电等离子体过程的影响.研究结果表明:随着H2浓度的升高,电子的平均能量增加,电子密度及ef-N2的各种非弹性碰撞率减小;但在一定的放电条件下,加入少量的H2,可以提高N2的离解和电子激发率,即选取合适的放电参数,加入少量的氢,不仅可以提高电子密度,而且有助于提高重要氮活性粒子(N2*,N+,N)的浓度.并得到了有利于粒子(N2*,N+,N)产生的H2的最佳浓度.研究结果为认识N2/H2混合气体辉光放电等离子体过程机理,探索提供"氮活化粒子富源"的实验研究提供参考依据.计算的激发态(C3пu)的分布与实验结果进行了比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张连珠	河北师范大学物理科学与信息工程学院	25	66	4.0	7.0
2	高书侠	河北师范大学物理科学与信息工程学院	8	54	4.0	7.0