凹印铜金粉表面理化特性的研究

• 作者: 吴燕婕 崔舜 张德林 朱清玮 林晨光 熊柏青 王世荣 王家君
• 来源期刊: 稀有金属
• 学科: 工学
• 关键词: 铜金粉 色泽 反射光谱 表面理化性质
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 846-849
• 页数: 4页
• 分类号: TF146.1
• 字数: 2356字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-7076.2006.06.027

摘要

利用显微光谱、 X荧光光谱、光电子能谱、色泽分析和场发射电子扫描显微分析,对凹印用铜金粉的表面理化性能进行了研究,结果表明,国产铜金粉的表面锌含量明显偏低,Cu(1)与Cu(0)的比例与进口铜金粉之间也存在差异;从而导致其反射光谱、表面理化性质方面与进口铜金粉存在显著差别,宏观上表现为国产和进口铜金粉的色泽存在差异,揭示了国产铜金粉与进口铜金粉品质差距的主要原因.