基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
研制出适用于100V高压集成电路的厚栅氧高压pMOS器件.在器件设计过程中利用TCAD软件对器件结构及性能进行了模拟和优化,开发出与0.8μm n阱标准CMOS工艺兼容的高压工艺流程,并试制成功.实验结果表明,该器件关态击穿电压为-158V,栅压-100V时饱和驱动电流达17mA(W/L=100μm/2μm),可以在100V高压下安全工作.
推荐文章
击穿18V的高压LDD PMOS器件的研制
高压PMOS器件
轻掺杂漏
击穿电压
器件模拟
锗硅外延工艺优化对28nm PMOS器件性能的改善
锗硅外延
薄膜堆叠层
器件性能
PMOS器件
内嵌PMOS的高维持电压LVTSCR设计
LVTSCR
静电放电
闩锁效应
维持电压
EP-LVTSCR
分流
薄栅氧高压CMOS器件研制
0.5μm
高压CMOS
高低压兼容
CMOS工艺
驱动电路
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 1OOV高压pMOS器件研制
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 高压集成电路 LDMOS 厚栅氧
年,卷(期) 2006,(z1) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 275-278
页数 4页 分类号 TN386.1
字数 1952字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.z1.069
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 韩郑生 中国科学院微电子研究所 122 412 10.0 12.0
2 宋李梅 中国科学院微电子研究所 18 56 5.0 5.0
3 李桦 中国科学院微电子研究所 6 36 3.0 6.0
4 杜寰 中国科学院微电子研究所 41 108 5.0 6.0
5 夏洋 中国科学院微电子研究所 67 325 9.0 14.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (2)
共引文献  (3)
参考文献  (2)
节点文献
引证文献  (1)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2000(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2003(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2004(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2005(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2006(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2008(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
高压集成电路
LDMOS
厚栅氧
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
相关基金
国家重点基础研究发展计划(973计划)
英文译名:National Basic Research Program of China
官方网址:http://www.973.gov.cn/
项目类型:
学科类型:农业
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导