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1OOV高压pMOS器件研制
1OOV高压pMOS器件研制
作者:
夏洋
宋李梅
李桦
杜寰
韩郑生
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
高压集成电路
LDMOS
厚栅氧
摘要:
研制出适用于100V高压集成电路的厚栅氧高压pMOS器件.在器件设计过程中利用TCAD软件对器件结构及性能进行了模拟和优化,开发出与0.8μm n阱标准CMOS工艺兼容的高压工艺流程,并试制成功.实验结果表明,该器件关态击穿电压为-158V,栅压-100V时饱和驱动电流达17mA(W/L=100μm/2μm),可以在100V高压下安全工作.
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内嵌PMOS的高维持电压LVTSCR设计
LVTSCR
静电放电
闩锁效应
维持电压
EP-LVTSCR
分流
薄栅氧高压CMOS器件研制
0.5μm
高压CMOS
高低压兼容
CMOS工艺
驱动电路
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文献信息
篇名
1OOV高压pMOS器件研制
来源期刊
半导体学报
学科
工学
关键词
高压集成电路
LDMOS
厚栅氧
年,卷(期)
2006,(z1)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
275-278
页数
4页
分类号
TN386.1
字数
1952字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0253-4177.2006.z1.069
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
韩郑生
中国科学院微电子研究所
122
412
10.0
12.0
2
宋李梅
中国科学院微电子研究所
18
56
5.0
5.0
3
李桦
中国科学院微电子研究所
6
36
3.0
6.0
4
杜寰
中国科学院微电子研究所
41
108
5.0
6.0
5
夏洋
中国科学院微电子研究所
67
325
9.0
14.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(2)
共引文献
(3)
参考文献
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节点文献
引证文献
(1)
同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
2000(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2003(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2004(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2005(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2006(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
2008(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
高压集成电路
LDMOS
厚栅氧
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
主办单位:
中国电子学会和中国科学院半导体研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-4926
CN:
11-5781/TN
开本:
大16开
出版地:
北京912信箱
邮发代号:
2-184
创刊时间:
1980
语种:
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
相关基金
国家重点基础研究发展计划(973计划)
英文译名:
National Basic Research Program of China
官方网址:
http://www.973.gov.cn/
项目类型:
学科类型:
农业
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