基于ATPG的无线接入芯片的可测试性设计

• 作者: 周剑扬 苏志雄 郭慧晶
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: DFT 扫描链 ATPG stuck-at
• 年，卷（期）: 2006,（24）
• 所属期刊栏目: 测试·封装·材料
• 页码范围: 117-119,122
• 页数: 4页
• 分类号: TP274+.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.24.042

摘要

可测试性设计是现代芯片设计中的关键环节,针对无线接入芯片的可测试性设计对测试技术有更高的要求.首先概述可测试性设计和测试向量自动生成理论,然后采用最新的测试向量自动生成技术,根据自行设计的无线接入芯片的内部结构及特点,建立一套无线接入芯片可测试性设计的方案.同时功能测试向量的配合使用,使得设计更为可靠.最终以最简单灵活的方法实现了该芯片的可测试性设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏志雄	厦门大学信息科学与技术学院	2	0	0.0	0.0
2	郭慧晶	厦门大学信息科学与技术学院	2	0	0.0	0.0
3	周剑扬	厦门大学信息科学与技术学院	30	233	6.0	14.0