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摘要:
稀疏天线阵可以大大减少合成孔径成像系统中的硬件数量,但是采到的可视度样本点就不是分布在一个均匀的网格上.可视度函数是空间频域的采样值,在做Fourier逆变换之前需要将样本点插到一个均匀的网格上.立方卷积插值的计算量虽然较大,但是插值效果较好.本文在最后给出了带状的T型阵列和旋转圆盘阵列的仿真效果.
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内容分析
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文献信息
篇名 立方卷积插值在合成孔径成像中的应用
来源期刊 电子测量技术 学科 工学
关键词 合成孔径辐射计 可视度函数 亮温 立方卷积插值 稀疏天线阵
年,卷(期) 2006,(3) 所属期刊栏目 信息技术
研究方向 页码范围 103-104,109
页数 3页 分类号 TM93
字数 1851字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-7300.2006.03.042
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 万国龙 北京航空航天大学电子信息工程学院 30 115 5.0 10.0
2 谭若婷 北京航空航天大学电子信息工程学院 1 6 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
合成孔径辐射计
可视度函数
亮温
立方卷积插值
稀疏天线阵
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测量技术
半月刊
1002-7300
11-2175/TN
大16开
北京市东城区北河沿大街79号
2-336
1977
chi
出版文献量(篇)
9342
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50
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