嵌入式系统芯片级测试技术

• 作者: 徐宁 李福林 王珺
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式芯片 SoC 芯片测试
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 检测与制作
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 3500字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2006.04.007

摘要

针对目前流行的嵌入式芯片级测试技术,本文介绍了SoC测试技术的基本工作原理,利用93000 SoC测试系统,提出了相关测试内容、方法并得出最终测试结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李福林	信息工程大学电子技术学院研究所	18	103	6.0	10.0
2	徐宁	信息工程大学电子技术学院研究所	11	38	5.0	5.0
3	王珺	信息工程大学电子技术学院研究所	2	32	1.0	2.0