线阵CCD一维尺寸测量的实验

• 作者: 贺永方 齐龙
• 来源期刊: 实验室科学
• 学科: 教育
• 关键词: CCD 尺寸测量 基本原理
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 实验研究
• 页码范围: 56-57
• 页数: 2页
• 分类号: G64
• 字数: 1138字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-4305.2006.06.025

摘要

CCD(Charge Coupled Devices)是20世纪70年代发展起来的新型半导体集成光电器件,能对光照做出反应并把反应的强度转换成相应的数值.它的应用范围很广,其中尺寸测量是最常见最简单的应用,而且是非常有效的非接触检测技术,被广泛地应用于各种加工件的在线检测和高精度、高速度的检测技术领域.本文旨在帮助对CCD感兴趣的同学通过一个简单的应用实例尽快地了解和掌握CCD的基本工作原理和一维尺寸测量应用中的关键知识点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	齐龙	天津大学精密仪器与光电子工程学院	21	116	5.0	9.0
2	贺永方	天津大学精密仪器与光电子工程学院	2	10	1.0	2.0