Cd0.8 Mn0.2Te晶体的生长及其性能

• 作者: 介万奇 张继军
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: Cd0.8Mn0.2Te X射线衍射 红外透过率 电阻率 紫外-可见-近红外光光谱
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1026-1029
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.2+6
• 字数: 1653字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.06.014

摘要

通过适当的工艺措施,采用传统布里奇曼法生长了尺寸为φ30mm×120mm的Cd0.8Mn0.2Te晶体.对晶体进行了X射线粉末衍射、X射线双晶摇摆曲线、紫外-可见光光谱、红外透过率及电阻率测试.测试结果表明,晶体结构为立方型,半峰宽较低,吸收边为720nm,对应禁带宽度为1.722eV,晶体的红外透过率和电阻率都较高.并讨论了晶体中的缺陷对红外透过率和电阻率的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	介万奇	西北工业大学材料学院	272	1636	19.0	27.0
2	张继军	西北工业大学材料学院	4	5	1.0	2.0