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摘要:
片上集成电感是单片集成射频电路、微波电路及光电集成电路中不可缺少的重要元件.高Q值的片上集成电感是IC工作者追求的目标.衬底损耗和金属损耗一直被认为是限制集成电感品质的主要因素.文中实例为证,在尽量消除衬底损耗和减小金属损耗条件下,得出它们并不是片上集成电感的决定性限制因素.本文从电感的定义出发,得出电感螺旋线之间磁通量的相互抵消是集成电感不能获得高Q值的决定因素.并通过螺旋电感的模拟计算和结合已有的实验,对此论点进行了论证.
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文献信息
篇名 影响集成电感性能的关键因素
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 螺旋电感 品质因子 磁通量 衬底损耗 金属损耗
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 105-109
页数 5页 分类号 TN43
字数 2659字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2006.01.030
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王启明 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室 118 735 14.0 20.0
2 成步文 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室 41 185 8.0 10.0
3 姚飞 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室 16 70 6.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
螺旋电感
品质因子
磁通量
衬底损耗
金属损耗
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
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21
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