中美专家研究讨地理标志保护

• 作者: 吕珊
• 来源期刊: 中华商标
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 报道
• 页码范围: 11-13
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

5月22日至23日,由国家工商总局商标局与美国专利商标局联合举办的"中美地理标志保护研讨会"在北京召开.一支由美国专利商标局专家和知名企业代表组成的访问团就地理标志的法律制度与国际框架、WTO地理标志争端情况以及美国商标注册人和地理标志注册人的经验等问题进行了介绍和交流.此外,来自澳大利亚的知识产权专家也应邀参加了讨论.国家工商总局商标局局长安青虎和美国驻华大使馆知识产权专员柯恒先生出席了本次研讨会,并为会议致开幕辞.