合肥储存环电子束流寿命分析

• 作者: 何多慧 孙葆根 张剑锋 徐宏亮 李珏忻 黄贵荣
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 真空寿命 托歇克寿命 腔压 耦合度 束流损失
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 加速器技术
• 页码范围: 455-458
• 页数: 4页
• 分类号: TL503.2
• 字数: 1997字
• 语种: 中文

摘要

电子束流寿命是个很重要的指标,直接影响合肥光源的正常运行,为此研究了影响束流寿命的因素,测量了高频腔压、耦合度以及束团长度对电子束流寿命的影响,研究显示合肥储存环的电子束流真空寿命和托歇克寿命相当;并且利用束损系统测量了因托歇克寿命的变化而造成束流损失的相对变化;通过增加耦合度增加束流的垂直发射度,有效地提高了束流的寿命,保证了合肥光源的正常运行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙葆根	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	69	277	9.0	11.0
2	徐宏亮	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	56	141	6.0	7.0
3	何多慧	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	46	153	7.0	8.0
4	黄贵荣	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	26	59	5.0	6.0
5	张剑锋	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	36	486	12.0	21.0
6	李珏忻	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	7	33	4.0	5.0