NI推出PCI接口的可变分辨率数字化仪PXI-5922

• 来源期刊: 电子测试(新电子)
• 学科: 工学
• 关键词: PCI接口 数字化仪 变分辨率 美国国家仪器公司 NI 大动态范围 破坏性测试 Test 示波器 半导体
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 页码范围: 108
• 页数: 1页
• 分类号: TP334.7|TP216
• 语种: 中文

摘要

美国国家仪器公司(NI)日前新推出PCI版本的PXI-5922可变分辨率数字化仪(也称为基于PC的示波器)可实现较大动态范围的测量,适用于通讯、半导体、生化以及超音速非破坏性测试(Ultrasonic Nondestructive Test,NDT)等领域.