半导体功率发光二极管温升和热阻的测量及研究

• 作者: 冯士维 吕长志 孙静莹 张跃宗 李瑛 杨集 谢雪松
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 温升 热阻 工作寿命 可靠性 发光效率
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 350-353
• 页数: 4页
• 分类号: TN383
• 字数: 3202字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.02.029

摘要

通过电学测量方法得到了半导体功率发光二极管温升与热阻的加热响应曲线.曲线出现一个或多个台阶,反映了其内部的热阻构成与器件物理结构.同时采用遮光法对器件温升及热阻进行了修正.还应用瞬态加热响应原理对功率管的封装结构进行了监测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕长志	北京工业大学电子信息与控制学院	60	471	12.0	18.0
2	张跃宗	北京工业大学电子信息与控制学院	10	105	6.0	10.0
3	冯士维	北京工业大学电子信息与控制学院	59	438	12.0	18.0
4	谢雪松	北京工业大学电子信息与控制学院	66	554	14.0	20.0
5	杨集	北京工业大学电子信息与控制学院	9	152	7.0	9.0
6	李瑛	北京工业大学电子信息与控制学院	7	141	6.0	7.0
7	孙静莹	北京工业大学电子信息与控制学院	4	86	4.0	4.0