基于Poisson-Normal过程性能退化模型的可靠性分析

• 作者: 冯静 刘琦 周经伦 张永强
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 性能 退化 正态分布 泊松过程
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 1775-1778
• 页数: 4页
• 分类号: TP114
• 字数: 3198字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2006.11.043

摘要

对于高可靠长寿命产品,基于性能退化数据分析产品可靠性是一种行之有效的技术途径.由于有时无法用确定的物理/化学过程定量描述性能退化过程,借助随机过程方法建立退化模型是有效的技术途径.提出了基于Poisson-Normal过程的性能退化模型,给出了参数估计算法和可靠性估计的计算公式,结合实例说明了方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘琦	国防科技大学信息系统与管理学院	46	479	13.0	20.0
2	周经伦	国防科技大学信息系统与管理学院	140	1986	23.0	38.0
3	冯静	国防科技大学信息系统与管理学院	56	506	13.0	19.0
4	张永强	国防科技大学信息系统与管理学院	10	116	6.0	10.0