XLPE绝缘电老化中局放特性试验研究

• 作者: 崔浩 成永红 谢小军 陈小林
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: XLPE绝缘 电老化 局部放电 超宽频带 绝缘状态
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: TM855
• 字数: 2104字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2006.04.008

摘要

利用TE571局放检测仪和超宽频带局放(PD)检测系统研究了XLPE电缆绝缘试样加速电老化过程中判断试样老化状态的局放统计参量和单次放电波形特性.结果表明,电老化过程中单次放电时域波形的上升沿变陡,从老化前50 ns降低为老化50 h的8 ns脉冲幅值从老化前的2 mV增加到老化50 h的17mV;放电频谱中特征峰的位置随着老化程度的加剧向高频方向移动,从老化前＜15 MHz增加到老化50 h的＜50 MHz和125～200MHz.该研究为放电单次波形检测技术评估XLPE电力电缆绝缘状态的基础研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	成永红	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	78	1073	18.0	27.0
2	陈小林	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	28	362	12.0	17.0
3	谢小军	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	11	289	9.0	11.0
4	崔浩	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	2	60	2.0	2.0