基于Markov随机场模型的纹理图像的缺陷检测

• 作者: 胡茂林 舒坚
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 纹理分析 Markov 随机场模型 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 智能、算法、软件工程
• 页码范围: 65-67
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 2238字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2006.05.023

摘要

在工业自动化研究中,部件的缺陷检测是非常重要的过程.文中提出了一种基于图像纹理分析的表面缺陷检测方法,图像表面纹理特征是利用Markbv随机场模型来描述的,通过学习和聚类分析来检测出纹理图像中有缺陷的区域.试验结果表明,该方法可以有效地描述不同种物质表面的纹理特征,并能准确地检测和定位缺陷.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡茂林	安徽大学智能计算与信息处理实验室	32	148	7.0	10.0
2	舒坚	安徽大学计算机教学部	12	60	4.0	7.0