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摘要:
该文讨论了如何在光电基础材料(水平砷化镓单晶)生长过程中进行缺陷(位错密度)控制,通过控制熔区的长度,使单晶的生长过程更趋稳定,和控制生长界面的形状以及界面处的温度梯度,减少了位错的产生和增殖.采取以上措施可以在一定程度上降低位错密度.
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文献信息
篇名 光电基础材料缺陷的研究
来源期刊 广播电视信息 学科 工学
关键词 光电基础材料(水平砷化镓) 缺陷(位错密度) 熔区 温度梯度
年,卷(期) 2006,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 76-77
页数 2页 分类号 TN204
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
光电基础材料(水平砷化镓)
缺陷(位错密度)
熔区
温度梯度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
广播电视信息
月刊
1007-1997
11-3229/TN
大16开
北京市场信息2144信箱
82-46
1994
chi
出版文献量(篇)
9372
总下载数(次)
15
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