一种基于并发错误模式的Java并发程序动态测试方法

• 作者: 刘超 杨楷 金茂忠
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 并发错误模式 并发程序测试 动态测试 插装技术 字节码
• 年，卷（期）: 2006,（z2）
• 页码范围: 24-26,78
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 3042字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2006.z2.008

摘要

并发程序中时序的不确定性导致的错误很难被检测.本文介绍了一种基于并发错误模式的多线程动态测试方法,通过在并发事件处插入线程时序改变探针,发现并发错误.本文首先介绍了出现在并发程序中的几种常见的错误模式,接着根据错误模式介绍插装策略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金茂忠	北京航空航天大学软件工程研究所	124	2563	23.0	48.0
2	刘超	北京航空航天大学软件工程研究所	138	2512	20.0	47.0
3	杨楷	北京航空航天大学软件工程研究所	1	0	0.0	0.0