加速器质谱测量用HfF4样品的制备

• 作者: 姜涛 杨君 杨通在
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 质谱测量 加速器 制备 样品 同量异位素 测量灵敏度 AMS
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 页码范围: 341
• 页数: 1页
• 分类号: TL503.3

摘要

测量^182Hf时如何排除和鉴别同量异位素^182W的干扰，提高测量灵敏度，是AMS测量^182Hf所要解决的关键问题。