网络时代的测试新技术与接口

• 作者: 吴康
• 来源期刊: 世界仪表与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: LXI 测试测量 应用
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 页码范围: 30-32
• 页数: 3页
• 分类号: TH132.44

摘要

一前言 1．现有测试技术与接口方案存在的问题 （1）GPIB成本太高，需要昂贵的I／O卡和线缆：速度太慢：只能最多接14台仪器。 （2）VXI整个架构太贵，起步成本太高：非标准的I／O（MXI）：模块数量受到限制：射频和微波应用受到限制：插卡的应用必须受限于机箱。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴康		7	0	0.0	0.0