40Gb/s交换IP软核验证和测试

• 作者: 李宥谋
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: IP软核 软核验证 性能测试
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 页码范围: 119-121,124
• 页数: 4页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2006.07.034

摘要

研究40Gb/s交换IP软核的验证和测试方法.通过建立SDH芯片验证平台和SDH芯片测试平台,实现IP软核的功能仿真、时序仿真和芯片性能测试.使得IP软核质量优良、性能稳定,适应性强,达到了交换IP软核的设计要求.形成了具有自主知识产权的40Gb/s交换IP软核.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李宥谋	西安邮电学院专用集成电路设计中心	43	384	8.0	19.0