托卡马克等离子体中内部磁扰动的测量研究

• 作者: 丁玄同 郑永真 郦文忠 齐昌炜
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 逃逸电子输运 扩散系数 内部磁涨落 软X射线(SXR) 硬X射线(HXR)
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 流体、等离子体和放电
• 页码范围: 294-298
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 3911字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2006.01.052

摘要

热等离子体中内部磁扰动水平可以由逃逸电子输运来确定,逃逸电子输运采用扰动实验和稳态实验等四种不同方法较容易获得某些局域的逃逸扩散系数,首先利用等离子体快速移动实验,测量孔栏上硬X射线通量的变化,获得边缘扩散系数;第二,由微波辐射强度和硬X射线通量(HXR)信号的锯齿振荡的峰值延迟时间得到径向位置某处到孔栏之间平均扩散系数;第三,软X射线(SXR)强度和HXR通量的信号的锯齿振荡的峰值延迟时间给出等离子体芯区外的径向平均扩散系数;第四,由来自孔栏上HXR韧致辐射谱求得逃逸电子平均能量,继而得到逃逸约束时间,获得径向平均扩散系数.内部磁扰动水平可以由逃逸电子扩散系数来确定,HL-1M等离子体中内部磁扰动值(~br/BT)大约为(2-4)×10-4.实验结果证明了用逃逸电子输运来确定内部磁扰动水平的有效性与可靠性,从实验中得到内部磁扰动的径向近似分布.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑永真		13	20	3.0	3.0
2	郦文忠		27	47	4.0	5.0
3	丁玄同		22	59	5.0	6.0
4	齐昌炜		2	6	1.0	2.0