微材料力学性能测控系统的硬件设计

• 作者: 何广平 张乐
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 微材料力学性能 测控系统 DSP CPLD
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 工业控制
• 页码范围: 1018-1019,1051
• 页数: 3页
• 分类号: TP311.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2006.08.014

摘要

简要介绍了微材料力学性能测试的现状和重要性,分析了测控系统的组成和工作原理,针对以DSP为核心的测控系统,着重论述了系统的硬件设计,对于如何扩展外部存储和实现总线接口、如何利用CPLD满足测控系统复杂的逻辑控制、如何提高系统可靠性等,提出了有效的解决方案;该系统在实际应用中取得了良好的效果,实现了高速、高精度数据采集与运动控制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何广平	北方工业大学机电工程学院	88	490	11.0	18.0
2	张乐	北方工业大学机电工程学院	3	6	2.0	2.0