基于SST89E58RD2的智能测试系统设计

• 作者: 俞利明 郑蓓林
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 智能测试 SPI下载 DI DO FLASH存储器
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 页码范围: 128-130
• 页数: 3页
• 分类号: TP393.07

摘要

介绍了一种基于SST89E58RD2的中小电子产品测试的智能系统设计方案，详细描述了针对麻将机主板测试的系统实现过程，并从SST89E58RD2单片机的特性、智能测试系统方案以及后续的功能展望等方面进行阐述。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞利明		6	4	2.0	2.0
2	郑蓓林	浙江杭州职业技术学院信息电子系	2	0	0.0	0.0