基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计

• 作者: 张西多 易晓山 胡政
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 边界扫描 可测试性 IEEE1149.4
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 570-572
• 页数: 3页
• 分类号: TP212.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2006.05.004

摘要

简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡政	国防科学技术大学机电工程研究所	22	242	10.0	15.0
2	易晓山	国防科学技术大学机电工程研究所	4	37	3.0	4.0
3	张西多	国防科学技术大学机电工程研究所	1	14	1.0	1.0