双极运算放大器辐射损伤的时间相关性

• 作者: 任迪远 刘刚 牛振红 陆妩 高嵩
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 双极运算放大器 辐射损伤 时间相关性 低剂量率 加速评估
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1280-1284
• 页数: 5页
• 分类号: TN722.7+7
• 字数: 4079字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.07.025

摘要

通过一系列辐照实验对双极运放辐射损伤的时间相关性进行了研究.结果表明,双极运放的辐射损伤与时间有着密切的关系,通过调整辐照剂量率、退火温度及时间等参数进行循环辐照-退火实验,可以测评出器件的低剂量率辐射损伤情况,并从界面态角度对这种损伤机理进行了分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆妩	中国科学院新疆理化技术研究所	42	320	11.0	16.0
2	刘刚	中国科学院新疆理化技术研究所	207	2369	24.0	40.0
6	牛振红	中国科学院新疆理化技术研究所	8	34	4.0	5.0
10	任迪远	中国科学院新疆理化技术研究所	59	375	11.0	16.0
11	高嵩	中国科学院新疆理化技术研究所	11	64	5.0	7.0