Pn结中的小电流过趋热效应及理论模拟计算

• 作者: 卢烁今 张兴华 朱阳军 苗庆海
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: pn结 晶体管结温 电流密度 结温均匀性 有效面积
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1595-1599
• 页数: 5页
• 分类号: TN301
• 字数: 3662字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.09.016

摘要

晶体管在耗散功率时,结温分布一般不均匀.在晶体管子管并联模型的基础上,经过实验和理论模拟计算及验证发现:结温分布不均匀时,高温区的电流密度大于低温区的电流密度;测试电流越小,高温区与低温区电流密度的比值越大,电流越集中在高温区,且集中区域的面积随着测试电流的减小而缩小,这种现象称为小电流过趋热效应.利用这一特性可以研究晶体管结温分布的不均匀性,计算结温分布的不均匀度,对半导体器件可靠性分析具有重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张兴华	山东大学物理与微电子学院	52	342	11.0	14.0
2	苗庆海	山东大学物理与微电子学院	14	69	6.0	7.0
3	朱阳军	山东大学物理与微电子学院	3	18	2.0	3.0
4	卢烁今	山东大学物理与微电子学院	5	28	3.0	5.0