线阵CCD在高精度测径系统中的应用

• 作者: 朱善安 王长军 马登极
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 线阵CCD 测径光学系统 边缘点
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 175-176,185
• 页数: 3页
• 分类号: O432.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2006.02.014

摘要

针对工业中用千分尺人工对工件直径测量的落后方法,文章设计了一套利用线阵CCD对直径实现精密测量的系统;该系统基于光学系统无接触性测量的基本原理,运用光学测量的理论和一般方法,设计并讨论了在实际运用中存在的问题及解决办法;实践证明,该系统运行稳定可靠,测量精度达到了微米级,可以用于实际的直径测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱善安	浙江大学电气学院	261	3211	28.0	44.0
2	王长军	浙江大学电气学院	9	173	6.0	9.0
3	马登极	浙江大学电气学院	4	104	4.0	4.0