基于C8051F023单片机的存储测试系统设计

• 作者: 何光林 李东光 李红旗 王志浩
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 存储测试 单片机 优化设计
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 相关技术4
• 页码范围: 638-639,642
• 页数: 3页
• 分类号: TP333
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9728.2006.01.203

摘要

相对于采用传统51单片机的存储测试系统来说,采用含有丰富片内资源的新型单片机更具优势.文中分析比较了两种不同的设计方案,在此基础上,详细介绍了基于C8051F023单片机的存储测试系统的软硬件设计.实验表明,该系统能够可靠工作,完成预期的设计要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李东光	北京理工大学机电工程学院	48	341	12.0	16.0
2	李红旗	北京理工大学机电工程学院	12	80	5.0	8.0
3	王志浩	北京理工大学机电工程学院	2	6	1.0	2.0
4	何光林	北京理工大学机电工程学院	32	235	10.0	13.0