微构件316L在力电耦合下力学行为实验研究

• 作者: 丁建宁 余朋清 王权 薛伟
• 来源期刊: 传感技术学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 微构件316L 力电耦合 力学行为
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 封装与可靠性
• 页码范围: 1620-1622
• 页数: 3页
• 分类号: O3
• 字数: 2048字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1699.2006.05.081

摘要

力学场与电场造成的场耦合下,微构件材料的力学行为的研究有重要的意义.用自制的微拉伸装置,通过对不同电流作用下的直径为20 m的316L微构件进行拉伸实验,发现微构件在拉伸作用下出现明显的塑性变形;力学性能与宏观性能有所不同,出现了小尺寸效应;不同电流作用下,微构件的弹性模量和拉伸强度随电流的增大而降低,获得了可靠的设计参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛伟	温州大学工业工程学院	66	591	13.0	20.0
3	丁建宁	江苏大学微纳米科学技术研究中心	146	769	14.0	19.0
4	余朋清	江苏大学微纳米科学技术研究中心	4	3	1.0	1.0
5	王权	江苏大学微纳米科学技术研究中心	31	183	8.0	11.0