小儿高热惊厥65例临床分析

• 作者: 潘金兰
• 来源期刊: 基层医学论坛：B版
• 学科: 医学
• 关键词: 小儿高热惊厥 临床分析 脑电图检查 脑部损害 惊厥患儿 非颅内感染 年龄因素 发病原因
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 页码范围: 887-888
• 页数: 2页
• 分类号: R720.597

摘要

高热惊厥是一组与发热有关的非颅内感染所致的惊厥。主要发生在6个月～3岁小儿，偶见于4岁～5岁，5岁以后较少见。发病原因除年龄因素外，还有遗传因素，患者近亲中约40％～58％有高热惊厥或癫痫史。惊厥大多发生于急骤高热（39℃～40℃）后12小时内，一般发作时间较短暂，仅数秒至数分钟，较长者可持续10分钟～30分钟以上，偶可呈持续状态。短暂的全身或半身的惊厥停止后神态可恢复正常，不引起脑部损害，也查不到异常神经体征，脑电图检查可有暂时出现慢波或正常。本文通过对65例患儿的分析，研究高热惊厥在不同发病情况下对机体脑组织的损害情况（通过脑电图检查反映），以指导临床对高热惊厥患儿的处理，提高治疗效果，减少后遗症。

作者信息

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1	潘金兰		2	0	0.0	0.0