涂层界面结合强度检测研究(Ⅱ): 涂层结合界面应力检测系统

• 作者: 冯爱新 孔德军 张永康 葛涛 鲁金忠
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线衍射法(XRD) 界面结合强度 涂层 残余应力
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:结构、热学和力学性质
• 页码范围: 6008-6012
• 页数: 5页
• 分类号: O3
• 字数: 3685字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2006.11.072

摘要

利用X射线衍射技术(XRD)测试了涂层及其基体材料的应力及其变化规律,建立了一种涂层结合界面应力检测系统,进行界面结合状态的检测研究.利用涂层从基体脱粘前后的界面应力变化量,结合涂层材料的物性参数和涂层-基体系统温度场参数,用涂层残余应力衍射峰来表征涂层与基体的结合强度,创立一种研究检测涂层结合强度理论的实验新方法,适用于各种热障涂层的界面结合强度测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鲁金忠	江苏大学机械工程学院	62	480	14.0	19.0
2	张永康	江苏大学机械工程学院	219	3356	29.0	43.0
4	冯爱新	江苏大学机械工程学院	68	754	14.0	25.0
7	葛涛	江苏大学机械工程学院	12	185	9.0	12.0
8	孔德军	江苏大学机械工程学院	32	414	13.0	18.0