单片机在表面粗糙度测量系统中的应用

• 作者: 于红
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 单片机 表面粗糙度 光纤传感器 非接触测量
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 72-73,76
• 页数: 3页
• 分类号: TP368.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.07.031

摘要

设计了一种以单片机和光纤传感器为基础构成的表面粗糙度测量系统.该系统由光纤传感器、信号检测电路、单片机处理电路和显示装置组成.其特点是系统性能稳定、适应性强、精度高,可以对不同加工方法的工件实现非接触和在线测量.重点给出了该系统的主要硬件和软件及实现方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于红	河北师范大学职技学院	10	19	3.0	4.0