密码技术中一种随机数检验方法的设计与实现

• 作者: 吕述望 苏桂平 马广明
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 随机序列 密码技术 线性复杂度
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 页码范围: 23-25
• 页数: 3页
• 分类号: TP31
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2006.11.007

摘要

文章把线性复杂度理论检用于密码技术中,设计一种实用的序列随机性检验方法.该方法可以检测随机序列发生器产生序列的随机性,也可以用于检验密码算法的安全性.通过实验,发现该方法能更全面检验序列的随机特性.