测试向量的自动生成及其功能验证环境

• 作者: 王鑫 郭炜
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 测试向量 测试分类 验证环境 准确率
• 年，卷（期）: 2006,（16）
• 所属期刊栏目: 测试·封装·材料
• 页码范围: 150-152
• 页数: 3页
• 分类号: TP303
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.16.055

摘要

随着芯片的设计和验证越来越复杂,如何快速产生准确的功能测试向量就成为降低产品测试成本和缩短产品上市时间的关键因素.简要介绍了测试分类及测试向量,重点描述功能验证环境的建立,并提出一种新的功能验证环境,用于提高测试向量产生的效率和准确率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭炜	上海交通大学微电子学院	41	235	10.0	13.0
2	王鑫	上海交通大学微电子学院	20	76	5.0	8.0