嵌入式逻辑分析仪在FPGA设计中的应用

• 作者: 孙肖子 张亚妮 白璘 邓成
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 嵌入式 逻辑分析仪 FPGA SignalTapⅡ
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 76-77,84
• 页数: 3页
• 分类号: TN702
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.02.030

摘要

设计和验证超高密度FPGA的方法是采用逻辑分析仪、示波器和总线分析仪,通过测试头和连接器把信号送到仪器上.随着FPGA设计复杂度的增加,传统的测试方法受到局限.在FPGA内部嵌入逻辑分析核,构成一种嵌入式逻辑分析仪,对FPGA器件内部所有的信号和节点进行测试,这一方法同样可以达到FPGA开发中硬件调试的要求,并且具有无干扰、便于升级和使用方便等优点.SignalTapⅡ正是这样一种嵌入式逻辑分析仪,本文详细介绍了其在调试FPGA时的具体方法和步骤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙肖子		33	361	9.0	18.0
2	邓成		12	94	6.0	9.0
3	张亚妮		3	62	3.0	3.0
4	白璘		3	52	3.0	3.0