基于AVR ATmega169的张力检测仪设计

• 作者: 王海棠 黄琦兰
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: AVR ATmega169 应变计 仪表放大器
• 年，卷（期）: 2006,（22）
• 所属期刊栏目: 仪器与仪表
• 页码范围: 9-11
• 页数: 3页
• 分类号: TP212.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.22.004

摘要

分析应变测量原理,应用应变片敏感栅作为传感器,结合仪表放大器电路和高集成度的单片机ATmega169实现低功耗便携式张力测试仪的设计.该系统功耗低、测量准确、直接数字读出,具有多种附加功能.成功解决了由经验判断引起的偏误过大问题.给出在实际应用中硬件电路和软件程序的实现方案.分析设计中常见的问题,并给出解决问题的思路.对相关的测量仪表设计、开发有一定参考作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄琦兰		20	84	4.0	8.0
2	王海棠		4	30	3.0	4.0