基于遗传算法的容差模拟电路故障诊断

• 作者: 何怡刚 周龙
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 参数识别 遗传算法
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 所属期刊栏目: 测试·封装·材料
• 页码范围: 121-123
• 页数: 3页
• 分类号: TN702
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.10.044

摘要

给出了用于模拟电路元件参数识别的多频传递函数法的过程,并对故障诊断方程的可解度进行了分析,在此基础上,将诊断方程的求解转化为非线性函数的优化问题,并运用改进的遗传算法来解决这个问题,算法实例表明该方法简化了故障诊断方程的求解过程,加速了容差电路故障元件的定位,有一定的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	周龙	湖南大学电气与信息工程学院	2	27	2.0	2.0