原文服务方: 科技与创新       
摘要:
本文介绍了利用红外热成像技术作为电路板故障信息检测,电路板故障分析采用故障树分析法与专家系统相结合的诊断方法,并描述了此专家系统的基本设计构想及实现方法.该诊断方式新颖、具有直观、非接触性、成本低、诊断速度快和准确性高等特点.
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文献信息
篇名 故障树分析法的专家系统在故障诊断中应用
来源期刊 科技与创新 学科
关键词 红外热成像 技术故障树 专家系统
年,卷(期) 2006,(22) 所属期刊栏目 故障诊断
研究方向 页码范围 135-137,75
页数 4页 分类号 TP306.3
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.22.052
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研究主题发展历程
节点文献
红外热成像
技术故障树
专家系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
科技与创新
半月刊
2095-6835
14-1369/N
大16开
2014-01-01
chi
出版文献量(篇)
41653
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202805
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