IEEE1445数据开发工具

• 作者: 张家斌 杨士元 牛道恒 王红
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 故障诊断 数字测试交换格式ATE
• 年，卷（期）: 2006,（34）
• 所属期刊栏目: 故障诊断
• 页码范围: 178-180
• 页数: 3页
• 分类号: TP311.52
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.34.067

摘要

数字电路板级故障诊断的标准接口文件IEEE1445(DTIF)已被各型ATE设备广泛支持,但在使用中普遍存在可读性较差、缺乏有效的人工干预接口等问题.本文介绍了DTIF文件的开发软件DTIFAssist,它在实现数据可视化的基础上,引导测试人员完成TPS开发的全过程,并最终生成标准文件,可有效提高历史测试数据的利用率,降低测试成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张家斌	北京市清华大学自动化系	1	1	1.0	1.0
2	牛道恒	北京市清华大学自动化系	1	1	1.0	1.0
3	王红	北京市清华大学自动化系	1	1	1.0	1.0
4	杨士元	北京市清华大学自动化系	1	1	1.0	1.0